Vis enkel innførsel

dc.contributor.authorEdholm, Gretenb_NO
dc.contributor.authorNicholson, David G.nb_NO
dc.date.accessioned2015-07-08T07:13:27Z
dc.date.available2015-07-08T07:13:27Z
dc.date.issued1979nb_NO
dc.identifier.issn0801-7794nb_NO
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11250/286759
dc.language.isoengnb_NO
dc.publisherStatens arbeidsmiljøinstituttnb_NO
dc.relation.ispartofseriesHD; 796/79nb_NO
dc.subjectRøntgendiffraksjonnb_NO
dc.subjectKrystallinsk silikanb_NO
dc.titleX-ray powder diffractometry : part II : microanalysis of crystalline silicanb_NO
dc.typeResearch reportnb_NO


Tilhørende fil(er)

Thumbnail
Thumbnail

Denne innførselen finnes i følgende samling(er)

  • HD [328]

Vis enkel innførsel